본문 바로가기

추천 검색어

실시간 인기 검색어

학술논문

On Test Statistics for Detecting Outliers in Gamma Distribution

이용수 0

영문명
발행기관
한국자료분석학회
저자명
Shin Young Park Dong Wook Kim Dong Hee Kim
간행물 정보
『Journal of The Korean Data Analysis Society (JKDAS)』Vol.14 No.5, 2295~2304쪽, 전체 10쪽
주제분류
자연과학 > 통계학
파일형태
PDF
발행일자
2012.10.30
4,000

구매일시로부터 72시간 이내에 다운로드 가능합니다.
이 학술논문 정보는 (주)교보문고와 각 발행기관 사이에 저작물 이용 계약이 체결된 것으로, 교보문고를 통해 제공되고 있습니다.

1:1 문의
논문 표지

국문 초록

영문 초록

Recently, many authors have discussed test statistics for testing an outlier in exponential distribution, which are Dixon’s statistic, Kumar and Lalitha’s statistic. This distribution is just a special case of the Gamma distribution. In this paper, we propose the test statistic for detecting outliers in Gamma distribution and induce the exact distribution. Throughout the simulation study, we compare the critical values of our proposed test statistics, containing other comparative test statistics. From the simulation results, we show that as sample size n increases, the critical values of our proposed statistics increase.

목차

1. Introduction
2. The Proposed Statistic and Its Distribution
3. Critical Values of the Test Statistics
4. Conclusion and Further Works
References

키워드

해당간행물 수록 논문

참고문헌

교보eBook 첫 방문을 환영 합니다!

신규가입 혜택 지급이 완료 되었습니다.

바로 사용 가능한 교보e캐시 1,000원 (유효기간 7일)
지금 바로 교보eBook의 다양한 콘텐츠를 이용해 보세요!

교보e캐시 1,000원
TOP
인용하기
APA

Shin Young Park,Dong Wook Kim,Dong Hee Kim. (2012).On Test Statistics for Detecting Outliers in Gamma Distribution. Journal of The Korean Data Analysis Society (JKDAS), 14 (5), 2295-2304

MLA

Shin Young Park,Dong Wook Kim,Dong Hee Kim. "On Test Statistics for Detecting Outliers in Gamma Distribution." Journal of The Korean Data Analysis Society (JKDAS), 14.5(2012): 2295-2304

결제완료
e캐시 원 결제 계속 하시겠습니까?
교보 e캐시 간편 결제