RFID 시스템의 고장률에 대한 경쟁적 위험모형 개발

• 영문명: Developing a Competing Risks Model for Failure Rate of RFID System
• 발행기관: 한국산업경영시스템학회
• 저자명: 장재영 양재철 박창순 안선응
• 간행물 정보: 『한국산업경영시스템학회 학술대회』2008년 춘계학술대회 논문집, 166~173쪽, 전체 8쪽
• 주제분류: 공학 > 산업공학
• 파일형태: PDF
• 발행일자: 2008.05.30

영문 초록

Bayesian estimation method is described for handling lifetime data on a system combined of series and parallel structure. We derive the likelihood function of a combined of series and parallel structure using data such as times to failure, causes of failure, functioning or failed states of the system and its parts. A predictive model for the failure rate of each part is also built up by using the derived likelihood function. The proposed model of Bayesian approach is applied to a RFID system.

목차

1. 서론

2. 가정 및 기호 정의

3. 부품별 시험데이터를 통한 모수 추정

4. 현장고장데이터를 이용한 베이지안 추정

5. 수치예제

6. 결론

키워드

series and parallel structure Bayesian estimation likelihood function