기술예측 오류 제거를 위한 델파이와 특허분석 활용 방안

• 발행기관: 한국산업경영시스템학회
• 저자명: 이장희
• 간행물 정보: 『한국산업경영시스템학회 학술대회』2008년 춘계학술대회 논문집, 248~251쪽, 전체 4쪽
• 주제분류: 공학 > 산업공학
• 파일형태: PDF
• 발행일자: 2008.05.30

국문 초록

본 연구는 델파이 방법을 적용하여 전문가의 의견을 수렴하여 국가의 기술 및 연구개발 정책을 결정할 때 델파이 방법의 단점인 전문가의 합의된 의견이 틀리는 부분을 보완해서 검증할 수 있는 방안을 제시한다 본 연구에서 제안한 방법은 . 델파이 방법을 사용하여 기술 예측을 하는 경우 특허 문서와 같은 대상 기술 분야의 기술에 대한 분석을 수행하여 두가지 방법을 통해 나온 결과를 상호 비교 분석하여 델파이 방법의 결과의 타당성을 검증토록 한다.

목차

1. 서론

2. 관련 연구

3. 델파이와 특허분석에 기반한 기술 예측 오류 감소 방법론

4. 결론 및 향후 연구

키워드

기술예측 델파이 특허 분석