추적 불가능한 자재흐름에서 유효한 품질관리

• 영문명: A Quality Control of Lot Which Doesn’t Have Tracibility of Input Material
• 발행기관: 한국산업경영시스템학회
• 저자명: 조진형 서정렬 정수일 백성선 김병극 김옥재 백승엽
• 간행물 정보: 『한국산업경영시스템학회 학술대회』2011년 춘계학술대회 논문집, 79~79쪽, 전체 1쪽
• 주제분류: 공학 > 산업공학
• 파일형태: PDF
• 발행일자: 2011.05.30

국문 초록

스크류, 볼트, 너트 등은 대규모 크기의 Lot를 형성하는 제품들이지만 Input은 덩어리로 들어와서 Output 제품의 관리에 따라서는 충분히 이력관리(tracibility)가 가능하다. 하지만 최근 그린에너지의 대표주자 중 하나인 태양광 Cell은 Cell 제조회사가 결정체인 Ingot을 들여와서 Slicing하여 공정에 투입시키는 것이 아니라, Slicing된 Wafer을 구입하여 페인팅, 인쇄, 소결 등의 공정을 거쳐 Output 제품을 생산해 내고 있다. 이런 공정에서는 대규모 크기 Lot의 Wafer Input 특성치를 Wafer by Wafer로 전수검사 하기 때문에 각각 낱장의 Wafer에 대해서는 Output까지 구분하여 주요 특성치에 대한 추적이력관리가 불가능한 경우가 대부분이다. 그 이유는 Output자체가 등급에 의한 판매가 가능하고, 일일이 추적하여 관리할 만큼 제품이 고가가 아니기 때문이다. 본 연구는 단순한 Lot별 Input 데이터와 추적이 불가능한 Output Lot의 특성치 데이터를 분석하여 추적성이 결여되면 좋지 않은 품질관리 결과가 나온다는 것을 사례로서 입증하고, 적은 비용으로 이러한 단점을 보완하는 품질관리 방안을 제안하고자 한다.

키워드

이력관리 Wafer