중․고등학생의 기술적 사고성향 구성요인에 대한 연구

• 영문명: A Study on Middle and High School Student s Technological Thinking Disposition s Component Factor
• 발행기관: 한국기술교육학회
• 저자명: 최완식(Won-Sik Choi) 노태천(Tae-Cheon Rho) 이소이(So-Yee Lee) 윤자룡(Zi-Long Yin) 남승권(Seung-Kwon Nam) 임병웅(Byeong
• 간행물 정보: 『한국기술교육학회지』제10권 제2호, 30~57쪽, 전체 28쪽
• 주제분류: 사회과학 > 교육학
• 파일형태: PDF
• 발행일자: 2010.12.31

국문 초록

이 연구의 목적은 기술교육 활동을 제고하고 기술교육에서의 사고와 관련된 연구의 토대를 마련하기 위해 중ㆍ고등학생의 기술적 사고성향을 구성하는 요인을 분류하는데 있다. 이러한 목적을 달성하기 위해 문헌 및 조사연구를 통해 연구를 진행하였다. 우선 문헌 연구에서는 사고 및 사고성향의 개념과 구성요소를 살펴보았다. 이를 통해 156개의 사고를 구성하는 요소를 종합하였으며 이 중에서 기술적 사고성향을 구성한다고 판단되는 77개 요소를 도출하여 86개의 예비검사 문항을 제작하였다. 조사연구는 델파이 조사 및 요인분석으로 진행하였다. 델파이 조사는 4차례에 걸쳐 이루어졌는데 델파이 위원은 기술교육 또는 사고 분야의 전문가 25명으로 구성 하였으며, 델파이 조사를 통해 86개의 예비 검사 문항 중 67개의 문항을 타당도를 갖춘 문항으로 선정하였다. 요인분석은 2차례 동안 이루어졌다. 요인분석을 위해 중ㆍ고등학생을 서울ㆍ경기, 충청, 경상, 전라의 4개 지역으로 군집 표집하여 설문조사 하였으며, 설문에 참여한 학생은 1차 1,704명, 2차 1,809명이었다. 1차 요인분석에서는 최우추정 요인 추출법으로 요인을 추출하였다. 추출결과 기술적 사고성향은 여섯 개의 요인으로 구성됨을 알 수 있었다. 또한 각 요인별 신뢰도는 .779에서 .872사이의 값을 보여 신뢰로웠으며, 이러한 1차 요인분석을 통해 38개 검사문항을 선정하여 2차 요인분석에 적용하였다. 2차 요인분석에서는 주대각성분 요인추출법으로 요인을 추출하였다. 추출결과 1차와 마찬가지로 여섯 개의 요인이 기술적 사고성향을 구성함을 알 수 있었다. 요인의 회전을 위해 직각회전 방법 중 하나인 베리맥스를 적용하였다. 요인 회전 후 요인을 분류하였고 분류한 6개의 요인을 각각 기술적 호기심 성향, 기술적 분석 성향, 기술적 문제파악 및 해결성향, 기술적 창의 및 표현성향, 기술적 조작 성향, 기술적 계획 및 성찰 성향으로 명명하였다. 각 요인별 신뢰도는 .774에서 .884 사이의 값을 보여 6개 요인의 신뢰도가 높은 것을 알 수 있었다.

영문 초록

The objective of the study is to classify the middle and high school student’s technological thinking disposition to improve the technology education activity and laid the foundation related to thinking in technology education. The survey and literature research conducted to achieve this objective. In the literature research, the concepts of thinking and thinking disposition were evaluated and the factors composing thinking and thinking disposition were searched. As of the result, total of 156 thinking factors were concluded and 77 factors out of the 156 thinking factors were selected as the element composing technological thinking and 86 inquires were chosen after reviewing preliminary survey inquires. As for the survey, Delphi research and factor analysis were followed. Delphi investigations were conducted for four times. The number of members for Delphi investigation was 25 and the members gave an opinion on feasibility of inquires and selected 67 inquires for the survey. Factor analysis was employed two times. For the factor analysis, the survey was also conducted for two times after classifying middle and high school students according to 4 provinces, Seoul & Kyungi, Chungcheong, Kyungsang, and Junra. 1,704 students were surveyed for the first factor analysis and 1,809 students for the second. In the first factor analysis, 6 initial factors were induced after applying maximum likelihood extraction method to induce the initial factors. The reliability of each factor showed from .779 to .897 which means it’s reliable. Based on the first factor analysis, 38 survey inquires were selected for the second factor analysis. In the second factor analysis, 6 initial factors were also induced. However, in the analysis, principal diagonal ingredient factor extraction method was employed to induce the initial factors. VARIMAX method was adopted to rotate the factors and with this method, the structure of factor matrix was revealed. Then, the initial factors were divided as technological curiosity disposition, technological analyze disposition, technological problem identifying and resolving disposition, technological creativity and expression disposition, technological operating disposition and technological planning and reflecting disposition. The reliability of each factor showed from .774 to .884 which means the factor is reliable.

목차

Ⅰ. 서론

Ⅱ. 연구의 절차 및 방법

Ⅲ. 연구의 결과 및 논의

Ⅳ. 결론 및 제언

키워드

기술적 사고성향 사고성향 Technological Thinking Disposition Thinking Disposition