Data-Driven 방식의 효과적인 임베디드 S/W 테스트 방법에 관한 연구

• 영문명: The Effetive Test for Embedded S/W by using Data-Driven Method
• 발행기관: 한국IT서비스학회
• 저자명: 권규환(Kwon, kyu hwan)
• 간행물 정보: 『한국IT서비스학회 학술대회 논문집』2009 추계학술대회논문집, 505~510쪽, 전체 6쪽
• 주제분류: 공학 > 전자/정보통신공학
• 파일형태: PDF
• 발행일자: 2009.11.30

국문 초록

전자, 자동차 등 엔지니어링 컨버전스 산업이 발전함에 따라 임베디드 S/W 테스트의 중요성이 증가하고 있다. 그러나, 일반적인 S/W테스트 방법을 그대로 이용할 경우 임베디드 디바이스의 특성으로 인해 일반적인 품질 수준의 테스트 결과를 얻기 위해 상대적으로 더 많은 비용과 시간을 필요로 하게 된다. 따라서, 다양한 임베디드 시스템의 환경에 적응하기 쉽고, 임베디드 디바이스의 특성에 잘 대응하는 테스트 방법이 요구되는 실정이다. 본 논문에서는 Data-Driven 기법을 이용한 효과적인 임베디드 테스트 자동화 기법을 제안한다.