우주항공 응용을 위한 내방사선 10T SRAM

• 영문명: Radiation-Hardened 10T SRAM Cell for Aerospace Applications
• 발행기관: 한국전자통신학회
• 저자명: 박형우(Hyeong-Woo Park) 조성훈(Sung-Hun Jo)
• 간행물 정보: 『한국전자통신학회 논문지』제19권 제5호, 1059~1066쪽, 전체 8쪽
• 주제분류: 공학 > 전자/정보통신공학
• 파일형태: PDF
• 발행일자: 2024.10.31

국문 초록

우주 방사선은 전자 장치의 신뢰성에 상당한 위협을 주고있다. 우주 방사선은 주로 태양에서 방출되는 고에너지입자등으로 구성되며, 우주의 진공 상태에서는 이러한 입자를 흡수하거나 분산시킬 보호 장치가 부족하다. 이러한 고에너지 입자에 노출되면 반도체 장치, 특히 메모리 장치에 치명적인 손상을 일으킬 수 있으며, 이는 우주 산업 전반에 심각한 영향을 미칠 수 있다. 따라서 본 논문에서는 우주 방사선 환경에서 높은 신뢰성을 유지할 수 있는 새로운 메모리 비트 셀 설계 방식을 제안한다.

영문 초록

Cosmic radiation poses a significant threat to the reliability of electronic devices. Cosmic radiation mainly consists of high-energy particles emitted from the sun, and there is no protection device to absorb or disperse these particles in the vacuum of space. Exposure to these high-energy particles can cause fatal damage to semiconductor devices, especially memory devices, and this can have serious implications for the entire space industry. Therefore, in this paper, we propose a new memory bit cell design method that can maintain high reliability in a space radiation environment.

목차

Ⅰ. Introduction

Ⅱ. Proposed Architecture

Ⅲ. SEU Recovery Simulation

Ⅳ. Performance Comparison

Ⅴ. Conclusions

References

키워드

Aerospace Radiation SEU SRAM