Sn 휘스커 연구동향

• 영문명: Sn Whisker Research Trend in Japan
• 발행기관: 한국마이크로전자및패키징학회
• 간행물 정보: 『마이크로전자 및 패키징학회지』제19권 제4호, 7~12쪽, 전체 6쪽
• 주제분류: 공학 > 산업공학
• 파일형태: PDF
• 발행일자: 2012.12.31

영문 초록

Sn whiskers are a serious cause of failure in electronic devices as they create short circuits. Sn whisker growth and mitigation have been investigated by many Japanese consortia including JEITA and JAXA. This paper gives an overview about recent researches of JEITA and JAXA.

목차

1. 서론

2. Sn 휘스커의 기초

3. 민수용 전기·전자기기의 Sn 휘스커 연구동향

4. 항공·우주분야의 Sn 휘스커 연구동향

5. 결론

감사의 글

참고문헌

키워드

Sn whisker growth lead-free plating mitigation