ENEPIG 표면처리에서의 Sn-Ag-Cu 솔더조인트 신뢰성

• 영문명: Reliability of Sn-Ag-Cu Solder Joint on ENEPIG Surface Finish: 2. Effects of time of Pd activation
• 발행기관: 한국마이크로전자및패키징학회
• 간행물 정보: 『마이크로전자 및 패키징학회지』제21권 제3호, 51~56쪽, 전체 6쪽
• 주제분류: 공학 > 산업공학
• 파일형태: PDF
• 발행일자: 2014.09.30

국문 초록

솔더조인트의 신뢰성에는 인쇄회로기판의 표면처리 특성이 많은 영향을 미치고 있다. 본 연구에서는 ENEPIG 표면처리에서 Sn-4.0wt%Ag-0.5wt%Cu (SAC405) 솔더와 Pd 촉매 처리 시간에 따른 high speed shear 에너지 및 파괴 모드를 연구하였다. 또한 Pd 촉매 처리 시간과 무전해 Ni-P 도금의 표면 거칠기 (Ra)와의 관계를 규명하였다. Pd 촉매 처리 시간이 길어질수록 Ni-P nodule의 면적은 넓어지고, Ni-P 도금의 표면 거칠기 (Ra)는 감소한다. 이러한 영향으로 질산 기상 처리한 시편의 high speed shear 평가후 quasi-brittle과 brittle 모드의 점유율은 감소한다. 이는 Pd 촉매 처리 시간의 증가가 SAC405 솔더조인트의 신뢰도를 향상시키는 역할을 한다는 것을 나타낸다.

영문 초록

The reliability of solder joint is significantly affected by the property of surface finish. This paper reports on a study of high speed shear energy and failure mode for Sn-4.0wt%Ag-0.5wt%Cu (SAC405) solder joints with the time of Pd activation. The nodule size of electroless Ni-P deposit increased with increasing the time of Pd activation. The roughness (Ra) of electroless Ni-P deposit decreased with increasing the time of Pd activation. Then, with HNO₃ vapor, the quasi-brittle and brittle mode of SAC405 solder joint decreased with increasing the time of Pd activation. This results indicate that the increase in the Pd activation time for Electroless Ni/ Electroless Pd/ Immersion Au (ENEPIG) surface finish play a critical role for improving the robustness of SAC405 solder joint.

목차

1. 서론

2. 실험 방법

3. 결과 및 고찰

4. 결론

References

키워드

Pd activation Electroless Ni-P plating ENEPIG Ni-P roughness Solder joint reliability High speed shear Ni-P thickness