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Sn(또는SnAg)/Ni(P)와 Sn/Cu 다층박막의 열사이클 동안 발생하는 잔류응력과 미세구조의 변화

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영문명
 Residual Stresses and Microstructural Changes During Thermal Cycling of Sn(orSnAg)/Ni(P) and Sn/Cu Multilayers
발행기관
한국마이크로전자및패키징학회
저자명
간행물 정보
『한국마이크로전자및패키징학회 학술대회자료집』2003년도 기술심포지움 논문집, 265~269쪽, 전체 5쪽
주제분류
공학 > 산업공학
파일형태
PDF
발행일자
2003.11.30
4,000

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APA

. (2003).Sn(또는SnAg)/Ni(P)와 Sn/Cu 다층박막의 열사이클 동안 발생하는 잔류응력과 미세구조의 변화. 한국마이크로전자및패키징학회 학술대회자료집, 2003 (11), 265-269

MLA

. "Sn(또는SnAg)/Ni(P)와 Sn/Cu 다층박막의 열사이클 동안 발생하는 잔류응력과 미세구조의 변화." 한국마이크로전자및패키징학회 학술대회자료집, 2003.11(2003): 265-269

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