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학술논문

전해도금된 Sn 미세범프에 미치는 Cu UBM 두께의 영향

이용수 0

영문명
Effects of Varying Cu UBM Thickness on Electrodeposited Tin Microbumps
발행기관
한국마이크로전자및패키징학회
저자명
간행물 정보
『한국마이크로전자및패키징학회 학술대회자료집』2004년도 추계 기술심포지움 초록집, 19~19쪽, 전체 1쪽
주제분류
공학 > 산업공학
파일형태
PDF
발행일자
2004.11.30
무료

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APA

. (2004).전해도금된 Sn 미세범프에 미치는 Cu UBM 두께의 영향. 한국마이크로전자및패키징학회 학술대회자료집, 2004 (11), 19-19

MLA

. "전해도금된 Sn 미세범프에 미치는 Cu UBM 두께의 영향." 한국마이크로전자및패키징학회 학술대회자료집, 2004.11(2004): 19-19

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