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학술논문

분말 X-선 회절분석법 원리와 신조성 반도체 재료 연구에의 응용

이용수 125

영문명
발행기관
한국세라믹학회
저자명
김재겸 김승주
간행물 정보
『세라미스트』제20권 제4호, 36~46쪽, 전체 11쪽
주제분류
공학 > 화학공학
파일형태
PDF
발행일자
2017.12.30
4,120

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1:1 문의
논문 표지

국문 초록

영문 초록

목차

1. 서론
2. 리트벨트 정련(Rietveld refinement)법
3. 피크 선폭과 미세구조(peak broadening and microstructure)
4. 정량적인 상 분석(quantitative phase analysis)
5. Ab initio 구조 결정법 - 미지 분말 시료의 결정구조 규명
6. 분석 결과에 대한 유효성 검사
7. 전망 및 결언
8. 감사의 글
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APA

김재겸,김승주. (2017).분말 X-선 회절분석법 원리와 신조성 반도체 재료 연구에의 응용. 세라미스트, 20 (4), 36-46

MLA

김재겸,김승주. "분말 X-선 회절분석법 원리와 신조성 반도체 재료 연구에의 응용." 세라미스트, 20.4(2017): 36-46

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